Cyfrowy miernik grubości powłok - maks. zakres pomiarowy w µm 100 | 1000 lub 2000 - Czytelność [d] 0,1 | 1 µm

Zakres stosowania
  • Cyfrowy miernik grubości powłok nadaje się do pomiaru grubości powłok, np. galwanicznych, cynkowych lub lakierniczych.
  • W zależności od wersji urządzenie nadaje się do pomiaru grubości następujących obiektów badawczych: powłoki z żelaza i stali, powłoki izolacyjne na metalach niemagnetycznych, powłoki niemagnetyczne na żelazie i stali.
Opis
  • Zasilany bateryjnie miernik grubości powłok posiada cyfrowy wyświetlacz z funkcją automatycznego wyłączania oraz zewnętrzną sondę pomiarową ułatwiającą dotarcie do trudno dostępnych punktów pomiarowych.
  • z płytką zerową i folią kalibracyjną oraz jako wybieralne jednostki mm, µm lub cale (mil).
  • Dzięki funkcji „Offset-Accur” urządzenie jest precyzyjnie ustawiane na konkretny zakres pomiarowy na podstawie dwupunktowej kalibracji, aby osiągnąć wyższą precyzję (odchylenie 1%) wartości pomiarowej.
  • Urządzenie jest dostarczane w solidnej walizce transportowej.
  • SAUTER TB 2000-0.1F to specjalny model dla przemysłu motoryzacyjnego.
  • Świadectwo kalibracji ISO można dodatkowo nabyć na życzenie.
Specyfikacja
  • Wymiary (dł. x szer. x wys.) - 161 x 69 x 32 mm
  • maks. zakres pomiarowy w µm - 100 | 1000 lub 100 | 2000
  • Czytelność [d] w µm - 0,1 | 1
  • najmniejsza powierzchnia pomiarowa - 6 mm
  • najmniejsza powierzchnia próbki (promień) wypukła - 1,5 lub 3 mm
  • najmniejsza powierzchnia próbki (promień) wklęsła - 25 lub 50 mm
  • minimalna grubość materiału podstawowego - 0,3 mm
  • Precyzja - Standard 3%, Offset-Accur 1% wartości pomiarowej, dla TB 2000-0.1F 5% wartości pomiarowej
  • Bateria - 4 x 1,5 V AA
  • Waga netto - ok. 0,26 kg
  • Świadectwo kalibracji - zgodnie z ISO
Świadectwo kalibracji ISO można dodatkowo nabyć na życzenie.
Wykonań (2)
Ograniczyć wybór
maks. zakres pomiarowy
obiekt badawczy
najmniejsza powierzchnia próbki wypukła (promień)
najmniejsza powierzchnia próbki wklęsła (promień)
Anzeigen als lista Tabela
Nr art.: 355210000100
Wersja
maks. zakres pomiarowy100, 1000 µm
obiekt badawczyPowłoki na żelazie i stali
najmniejsza powierzchnia próbki wypukła (promień)1,5 mm
najmniejsza powierzchnia próbki wklęsła (promień)25 mm
421,71
cena z podatkiem VAT
wysyłka gratis
Czas dostawy 7-10 dni roboczych
Nr art.: 355210000101
Wersja
maks. zakres pomiarowy100 1000 µm
obiekt badawczyUrządzenie pomiarowe kombinowane F, N
najmniejsza powierzchnia próbki wypukła (promień)patrz F / N
najmniejsza powierzchnia próbki wklęsła (promień)patrz F / N
533,00
cena z podatkiem VAT
wysyłka gratis
Czas dostawy 2 - 4 dni robocze
Oceny


Brak ocen
Poszukiwane hasła : cyfrowy miernik długości, miernik wbudowany, suwmiarka wbudowana, system do badania sprężyn, rdzeń, miernik długości, suwmiarka, miernik poziomu dźwięku, miernik grubości powłok, miernik ultradźwiękowy, pomiar ultradźwiękowy, cyfrowy miernik grubości powłok, cyfrowe mierniki grubości powłok, miernik grubości powłok, mierniki grubości powłok, miernik grubości warstwy, mierniki grubości warstwy, miernik grubości powłok, mierniki grubości powłok, miernik grubości warstwy, cyfrowy miernik grubości powłok, cyfrowe mierniki grubości powłok, cyfrowy miernik grubości warstwy, cyfrowe mierniki grubości warstwy, cyfrowy miernik grubości powłok, cyfrowe mierniki grubości powłok, cyfrowy miernik grubości warstwy, Rdzeń, Kern und Sohn, SAUTER, SAUTER TB, TB 1000-0.1F, TB 1000-0.1N, TB 2000-0.1F, TB 1000-0.1FN